Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Design of a 20 GHz DPI method for SOIC8

Autor: Land, S.O., Perdriau, R., Ramdani, M., Gil Galí, Ignacio, Lafon, F.

Publikováno v: UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya
instname

The direct power injection (DPI) test defined in IEC 62132-4 measures the conducted immunity of integrated circuits (ICs) up to 1 GHz. As the frequency of functional and interference signals is increasing, we would like to characterise immunity for h

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::836b7c8360fcf92e9dc1cd046f1b9b92
http://hdl.handle.net/2117/17378

Modélisation de l'immunité des circuits intégrés - Passé, présent, et nouveaux challenges pour la normalisation

Autor: Lafon, F., Ramdani, Mohamed, Daran, F., Perdriau, R., Maurice, O., Drissi, M.

Publikováno v: CEM 2010
CEM 2010, Apr 2010, Limoges, France

National audience; no abstract

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::38217575bc5b797f6a39dd9680ded1e0
https://hal.science/hal-01161574