Measurement of Minority Carrier Lifetime in n-Type MBE HgCdTe on Variable Substrates.

Autor: Maloney, P.G., DeWames, R., Pellegrino, J.G., Billman, C., Arias, J.M., Edwall, D.D., Lee, D., Khurgin, J.

Publikováno v: Journal of Electronic Materials; Oct2012, Vol. 41 Issue 10, p2785-2789, 5p, 1 Chart, 8 Graphs

AlGaAs composition measurements from in situ optical reflectance.

Autor: Bertness, K.A., Armstrong, J.T., Marinenko, R.B., Robins, L.H., Paul, A.J., Pellegrino, J.G., Amirtharaj, P.M., Chandler-Horowitz, D.

Publikováno v: 2000 Digest of the LEOS Summer Topical Meetings. Electronic-Enhanced Optics. Optical Sensing in Semiconductor Manufacturing. Electro-Optics in Space. Broadband Optical Networks (Cat. No.00TH8497); 2000, pII21-II22, 2p

Time resolved measurements of the polarization state of coherent four-wave-mixing signals from GaAs multiple quantum wells.

Autor: Smirl, A.L., Bolger, J.A., Paul, A.E., Pellegrino, J.G.

Publikováno v: Summaries of Papers Presented at the Quantum Electronics & Laser Science Conference; 1996, p103-104, 2p

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.