Zobrazeno 1 - 10
of 103
pro vyhledávání: '"Pawlak, M.A."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kittl, J.A., Opsomer, K., Popovici, M., Menou, N., Kaczer, B., Wang, X.P., Adelmann, C., Pawlak, M.A., Tomida, K., Rothschild, A., Govoreanu, B., Degraeve, R., Schaekers, M., Zahid, M., Delabie, A., Meersschaut, J., Polspoel, W., Clima, S., Pourtois, G., Knaepen, W., Detavernier, C., Afanas’ev, V.V., Blomberg, T., Pierreux, D., Swerts, J., Fischer, P., Maes, J.W., Manger, D., Vandervorst, W., Conard, T., Franquet, A., Favia, P., Bender, H., Brijs, B., Van Elshocht, S., Jurczak, M., Van Houdt, J., Wouters, D.J.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2009 86(7):1789-1795
Autor:
Kittl, J.A., Lauwers, A., Pawlak, M.A., Veloso, A., Yu, H.Y., Chang, S.Z., Hoffmann, T., Pourtois, G., Brus, S., Demeurisse, C., Vrancken, C., Absil, P.P., Biesemans, S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(9):1857-1860
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kittl, J.A., Pawlak, M.A., Lauwers, A., Demeurisse, C., Hoffmann, T., Veloso, A., Anil, K.G., Kubicek, S., Niwa, M., van Dal, M.J.H., Richard, O., Jurczak, M., Vrancken, C., Chiarella, T., Brus, S., Maex, K., Biesemans, S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2117-2121
Autor:
Pawlak, M.A., Kittl, J.A., Chamirian, O., Veloso, A., Lauwers, A., Schram, T., Maex, K., Vantomme, A.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering October 2004 76(1-4):349-353
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2003 70(2):373-376
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.