Zobrazeno 1 - 10
of 59
pro vyhledávání: '"Pavlova, E.P."'
Publikováno v:
In Continental Shelf Research 2004 24(12):1375-1395
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Наносистемы: физика, химия, математика.
The subject of this study is the formation of the phase composition and structure in nanoscaled CoSb x (30 nm) (1.82≤x≤4.16) lms deposited by molecular-beam epitaxy on substrates of oxidized monocrystalline silicon at 200° C and the following th
The formation of heterostructures based on nanoscale silicide films in limiting states are exemplified. The nanoscale silicide films of a required phase composition are shown to be obtainable by formation of specific zones, different type interlayers
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1456::25e4788fa7a74c46e866e122893ce813
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/138937
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/138937
The work aim is to demonstrate the potential of the spectroscopic ellipsometry (SE) approach to study the solid state reactions, both spontaneous and/or induced by thermal annealing, in (3.0 nm Co / 10.6 nm Si)₂₀ multilayered film (MLF). The regi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1456::31106acbdf41e1068e20afa22e9a0aa4
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/137685
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/137685
Publikováno v:
Materials Science Forum; June 2015, Vol. 821 Issue: 1 p213-216, 4p
Autor:
Kudryavtsev, Y.V., Sidorenko, S.I., Makogon, Yu.N., Pavlova, E.P., Verbitskaya, T.I., Lee, Y.P., Hyun, Y.H., Oksenenko, V.A.
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part A: Defect and Diffusion Forum; April 2005, Vol. 237 Issue: 1 p572-577, 6p
Autor:
Sidorenko, S.I., Tu, K.N., Makogon, Yu.N., Csik, A., Pavlova, E.P., Verbitskaya, T.I., Nesterenko, Yu.V.
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part A: Defect and Diffusion Forum; February 2003, Vol. 216 Issue: 1 p263-268, 6p
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part A: Defect and Diffusion Forum; April 2001, Vol. 194 Issue: 1 p1643-1648, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.