A model of the effect of fungicides on disease-induced yield loss, for use in wheat disease management decision support systems.

Autor: Milne, A.¹, Paveley, N.², Audsley, E.³ e.audsley@cranfield.ac.uk, Parsons, D.³

Publikováno v: Annals of Applied Biology. Aug2007, Vol. 151 Issue 1, p113-125. 13p. 4 Charts, 6 Graphs.

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ECHAP : un projet pour identifier les possibilités de réduction de l’utilisation des fongicides en utilisant l’architecture des couverts

Autor: Corinne Robert, Christian Fournier, Mariem Abichou, Bruno Andrieu, Marie-Odile Bancal, Enrique Barriuso, Carole Bedos, Pierre Benoit, Valerie Bergheaud, Marc Bidon, Bernard Bonicelli, Camille Chambon, Chapuis, R., Eric Cotteux, Da Costa, J., Brigitte Durand, Nathalie Gagnaire, Damien Gaudillat, Christophe Gigot, Guillaume Girardin, David Gouache, Josiane Jean-Jacques, Laure Mamy, Bertrand Ney, Paveley, N., Benjamin Perriot, Samuel Poidevin, Stéphanie Pointet, Valerie Pot-Genty, Christophe Pradal, Richard, C., Sébastien Saint-Jean, Jérôme Salse, Carole Sinfort, Smith, J., Ter Halle, A., Den Berg, E., Anne-Sophie Walker

Publikováno v: 45e Congrès du Groupe Français des Pesticides Devenir et impact des pesticides : verrous à lever et nouveaux enjeux
45e Congrès du Groupe Français des Pesticides Devenir et impact des pesticides : verrous à lever et nouveaux enjeux, May 2015, Versailles, France. 145 p., 2015, Devenir et impact des pesticides : verrous à lever et nouveaux enjeux
45e Congrès du Groupe Français des Pesticides Devenir et impact des pesticides : verrous à lever et nouveaux enjeux, May 2015, Versailles, France. 2 p
45e Congrès du Groupe Français des Pesticides Devenir et impact des pesticides : verrous à lever et nouveaux enjeux, May 2015, Versailles, France. 145 p., 2015
HAL

ECHAP : un projet pour identifier les possibilités de réduction de l’utilisation des fongicides en utilisant l’architecture des couverts. 45e Congrès du Groupe Français des Pesticides Devenir et impact des pesticides : verrous à lever et nou

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::e31dced88ec7ca82ee29961413c8774d
https://hal.science/hal-01394816

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