Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Patwardhan, Ninad"'
Autor:
Patwardhan, Ninad Narendra
In the recent years threaded run-to-run (RtR) control algorithms have experienced drawbacks under certain circumstances, one such trait is when applied to high-mix of products such as in Application Specific Integrated Circuits (ASIC) foundries. The
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/2152/ETD-UT-2010-12-2097
Autor:
Patwardhan, Ninad, Kulkarni, Mrinmoyi
Publikováno v:
Psychological Studies; Jun2023, Vol. 68 Issue 2, p211-222, 12p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bhat U., Shrinivasa, Cherian, Anish V., Bhat, Aneesh, Chapman, Helena J., Lukose, Ammu, Patwardhan, Ninad, Satyanarayana, Veena, Ramakrishna, Jayashree
Publikováno v:
Nitte University Journal of Health Science; Dec2015, Vol. 5 Issue 4, p66-76, 11p
Autor:
U., Shrinivasa Bhat, Cherian, Anish V., Bhat, Aneesh, Chapman, Helena J., Lukose, Ammu, Patwardhan, Ninad, Satyanarayana, Veena, Ramakrishna, Jayashree
Publikováno v:
Journal of Health and Allied Sciences NU; December 2015, Vol. 5 Issue: 4 p066-076, 11p