NanoESCA III: Momentum Microscopy on 2D Materials

Autor: Patt, Marten, Merkel, Michael, Weber, Nils, Escher, Matthias, Timna-Joshua Kühn

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Bulk and surface sensitive energy-filtered photoemission microscopy using synchrotron radiation for the study of resistive switching memories

Autor: Patt, Marten Christopher

Publikováno v: Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH Zentralbibliothek, Verlag, Schriften des Forschungszentrums Jülich. Reihe Schlüsseltechnologien / Key Technologies 122, VIII, 247 S. (2016). = Universität Duisburg, Diss., 2016

In dieser Arbeit wird die Anwendbarkeit von energiegefilterter Photoemissionsmikroskopie zur Analyse zukünftiger elektronischer Bausteine für die Informationstechnologie untersucht. Die langfristige Perspektive ist dabei die Untersuchung von Schalt

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::41705b47e76966036265a44623149cfd
https://duepublico2.uni-due.de/servlets/MCRFileNodeServlet/duepublico_derivate_00041280/Schluesseltech_122.pdf

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