Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Patrick G. Drennan"'
Autor:
Jonathan L. Holland, Stephen Knol, Li Sun, Sam Yang, Hai Dang, John Jianhong Zhu, Bo Yu, Reza Jalilizeinali, Xiaohua Kong, Chiew-Guan Tan, Alvin Leng Sun Loke, Lixin Ge, Tin Tin Wee, Zhiqin Chen, Da Yang, Kumar Albert, Kern Rim, Jun Yuan, Burton M. Leary, Wilson Jianbo Chen, Sreeker Dundigal, Deqiang Song, Chulkyu Lee, Steven James Dillen, Patrick G. Drennan, Esin Terzioglu, Stanley Seungchul Song, Hasnain Lakdawala, Periannan Chidambaram, Jihong Choi
Publikováno v:
Hybrid ADCs, Smart Sensors for the IoT, and Sub-1V & Advanced Node Analog Circuit Design ISBN: 9783319612843
Consumer demand for low-power mobile ICs has propelled CMOS scaling to arrive at the fully depleted finFET with foundry offerings already available at 16/14, 10, and 7 nm. The compact three-dimensional structure of the finFET offers superior short-ch
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6f9a93acedd44b3f7899ad05e8d60143
https://doi.org/10.1007/978-3-319-61285-0_14
https://doi.org/10.1007/978-3-319-61285-0_14
Publikováno v:
CICC
Financial concerns, design efficiency needs, and new and complex phenomena in submicron technologies have created a need for up-front (pre-schematic) analog design work. Analog designers need tools that allow them to be proactive and evaluate topolog
Autor:
Bruce W. Smith, Patrick G. Drennan
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
In order to truly represent photolithography through simulation, the exposure, bake, and development models and model parameters must be accurate. Using the approach for the measurement of the in-situ development rate, developed in the first paper of
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
Using a site services development spray monitor (DSM 100) and a post processing algorithm, the in-situ measured development rates of photoresist were obtained. The interference signals for eight different wavelengths were simultaneously monitored on
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.