Zobrazeno 1 - 10
of 36
pro vyhledávání: '"Parekhji, Rubin A."'
Autor:
Arunachalam, Ayush, Kintz, Ian, Banerjee, Suvadeep, Raha, Arnab, Jin, Xiankun, Su, Fei, Prasanth, Viswanathan Pillai, Parekhji, Rubin A., Natarajan, Suriyaprakash, Basu, Kanad
Given the widespread use of safety-critical applications in the automotive field, it is crucial to ensure the Functional Safety (FuSa) of circuits and components within automotive systems. The Analog and Mixed-Signal (AMS) circuits prevalent in these
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2404.01632
Publikováno v:
IndraStra Global.
With technology scaling, vulnerability to soft errors in random logic is increasing. There is a need for on-line error detection and protection for logic gates even at sea level. The error checker is the key element for an on-line detection mechanism
Publikováno v:
2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS); 2016, p1-6, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2015 IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS); 2015, p175-180, 6p
Publikováno v:
2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE); 2015, p1559-1562, 4p
Publikováno v:
2015 28th International Conference on VLSI Design; 2015, p363-368, 6p
Publikováno v:
2014 International Test Conference; 2014, p1-9, 9p
Autor:
Vartziotis, Fotis, Kavousianos, Xrysovalantis, Chakrabarty, Krishnendu, Parekhji, Rubin, Jain, Arvind
Publikováno v:
2014 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE); 01/01/2014, p1-6, 6p