Zobrazeno 1 - 10
of 58
pro vyhledávání: '"Paramonov, Pavel"'
Publikováno v:
In Precision Engineering October 2024 90:108-121
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Razeghi, Manijeh, Jarrahi, Mona, Lumbeeck, Lars-Paul, Paramonov, Pavel, Sijbers, Jan, De Beenhouwer, Jan
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; October 2024, Vol. 13141 Issue: 1 p131410F-131410F-5, 1182696p
Autor:
Razeghi, Manijeh, Jarrahi, Mona, Lumbeeck, Lars-Paul, Paramonov, Pavel, Sijbers, Jan, De Beenhouwer, Jan
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; October 2024, Vol. 13141 Issue: 1 p131410E-131410E-6, 1182697p
Autor:
Paramonov, Pavel B.
A novel nanolithography technique is developed for nanoscale patterning of polymers: atomic force microscope assisted electrostatic nanolithography (AFMEN). In AFMEN, nanostructures are generated by mass transport of polymeric material within an init
Externí odkaz:
http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=akron1123016038
We are concerned with free energy analysis of the system comprising an AFM tip, water meniscus, and polymer film. Under applied electrostatic potential, the minimum in free energy is at a distance greater than the initial tip--substrate separation in
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0505457
We apply non-local density functional formalism to describe an equilibrium distribution of the water-like fluid in the asymmetric nanoscale junction presenting an atomic force microscope (AFM) tip dwelling above an arbitrary surface. The hydrogen bon
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/physics/0504028
An exact analytical solution based on the method of images has been obtained for the description of the electrostatic field in the system comrising of atomic force microscope (AFM)tip, dielectric, and conductor. The solution provides a step towards q
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0408247
Publikováno v:
Online e-journal of nondestructive testing
As Terahertz (THz) technology becomes more prominent in the imaging industry, there is a rising need for improved reconstruction techniques for THz tomographic imaging. Conventional reconstruction techniques yield artifacts for limited data problems,