Zobrazeno 1 - 10
of 57
pro vyhledávání: '"Papavramidou, P."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Papavramidou, P., Nicolaidis, M.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE, 2018, ⟨10.1109/TCAD.2018.2887052⟩
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE, 2018, ⟨10.1109/TCAD.2018.2887052⟩
International audience; In modern SoCs embedded memories should be protected by ECC against field failures to achieve acceptable reliability. They should also be repaired after fabrication to achieve acceptable fabrication yield, as well as during li
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::16cb6a85c7a50ea593061692aa0afec8
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02006483
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02006483
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Papavramidou, P., Nicolaidis, M.
Publikováno v:
Proc. of IEEE VLSI Test Symposium (VTS)
IEEE VLSI Test Symposium (VTS)
IEEE VLSI Test Symposium (VTS), Apr 2013, Berkeley, CA, United States. pp.1-6, ⟨10.1109/VTS.2013.6548928⟩
IEEE VLSI Test Symposium (VTS)
IEEE VLSI Test Symposium (VTS), Apr 2013, Berkeley, CA, United States. pp.1-6, ⟨10.1109/VTS.2013.6548928⟩
ISBN 978-1-4673-5542-1; International audience; In modern SoCs embedded memories should be repaired to achieve acceptable yield. They should also be protected by ECC against field failures to achieve acceptable reliability. In technologies affected b
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0d0f0e991a45db606971f069fbd7eee9
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00842320
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00842320