Zobrazeno 1 - 10
of 128
pro vyhledávání: '"PETRY, J A"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
A major bottleneck in nanoparticle measurements is the lack of comparability. Comparability of measurement results is obtained by metrological traceability, which is obtained by calibration. In the present work the calibration of dimensional nanopart
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1812.09157
Publikováno v:
In Industrial Crops & Products 15 November 2018 124:254-264
Autor:
Piot, J., Qian, J., Pirée, H., Kotte, G., Pétry, J., Kruth, J.-P., Vanherck, P., Van Haesendonck, C., Reynaerts, D.
Publikováno v:
In Measurement January 2013 46(1):739-746
Autor:
Varanasi, C., Petry, J., Brunke, L., Yang, B.T., Lanter, W., Burke, J., Wang, H., Bulmer, J.S., Scofield, J., Barnes, P.N.
Publikováno v:
In Carbon August 2010 48(9):2442-2446
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kovacs, J, Farkas, A, Emodi, M, Lovas, R, Kacsuk, P, Kiss, T, Pattison, G, Kite, S, Petry, J, Snookes, G, Anagnostou, A, Taylor, SJE
Publikováno v:
12th International Workshop on Science Gateways (IWSG 2020)
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______900::5ad0ccb65c86febf2d764a1f8824ddc7
http://bura.brunel.ac.uk/handle/2438/21094
http://bura.brunel.ac.uk/handle/2438/21094
Autor:
Singanamalla, R., Yu, H., O’Sullivan, B.J., Petry, J., Mercha, A., Paraschiv, V., Volders, H., Kubicek, S., De Meyer, K., Biesemans, S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(9):1865-1868
Autor:
Ferain, I., Pantisano, L., Kottantharayil, A., Petry, J., Trojman, L., Collaert, N., Jurczak, M., De Meyer, K.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(9):1882-1885
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(9):1972-1975