Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"PCA labeler"'
Publikováno v:
Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, vol 75, iss Pt 6
We propose a novel data-driven approach for analyzing synchrotron Laue X-ray microdiffraction scans based on machine learning algorithms. The basic architecture and major components of the method are formulated mathematically. We demonstrate it throu
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::dcb4b2ba08d7352dffb4068f7b4790e6
http://arxiv.org/abs/1909.06572
http://arxiv.org/abs/1909.06572
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.