Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"PARK, YONG SIK"'
Autor:
Lim, Hyo Seok, Choi, Sun Mi, Lee, Jinwoo, Park, Yong Sik, Lee, Sang-Min, Yim, Jae-Joon, Yoo, Chul-Gyu, Kim, Young Whan, Han, Sung Koo, Lee, Chang-Hoon
Publikováno v:
In Annals of Allergy, Asthma & Immunology December 2014 113(6):652-657
Autor:
Jin-Guk Kim, Kijun Lee, Junyong Noh, Seungseob Lee, Jung-Bae Lee, Seung-Duk Baek, Jungyu Lee, Sin-Ho Kim, Soo-Young Kim, Hye-In Choi, Ki-Chul Chun, Beomyong Kil, Sanguhn Cha, So-Young Kim, Jae-Won Park, Ryu Ye-Sin, Jun Jin Kong, Dong-Hak Shin, Byung-Kyu Ho, Hyuk-Jun Kwon, Baekmin Lim, Park Yong-Sik, Seouk-Kyu Choi, Chi-Sung Oh, Kyomin Sohn, Myungkyu Lee, Kwang-Il Park, Young-Yong Byun, Jae-Wook Lee, Bo-Tak Lim, Seong-Jin Cho, Jong-Pil Son, Yong-ki Kim, Nam Sung Kim, S.J. Ahn
Publikováno v:
ISSCC
Rapidly evolving artificial intelligence (Al) technology, such as deep learning, has been successfully deployed in various applications: such as image recognition, health care, and autonomous driving. Such rapid evolution and successful deployment of
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c5b0e5664cdb1f3d0e43a12624294aa7
https://doi.org/10.1109/isscc19947.2020.9063110
https://doi.org/10.1109/isscc19947.2020.9063110
Publikováno v:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 37:2613-2622
We propose a novel memory architecture for in-memory computation called McDRAM, where DRAM dies are equipped with a large number of multiply accumulate (MAC) units to perform matrix computation for neural networks. By exploiting high internal memory
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9b9eb474cdc15213e699999d68c636d8
https://doi.org/10.1109/tcad.2018.2857044
https://doi.org/10.1109/tcad.2018.2857044
Publikováno v:
In The Journal of Urology 2005 174(2):561-565
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yoo-Chang Sung, Seong-Jin Jang, Jung-Hwan Choi, Gyo-Young Jin, Sang-hoon Shin, Yong-Hwan Kim, Beomyong Kil, Kim Wang-Soo, Hye-Seung Yu, Yong-Cheol Bae, S.J. Ahn, Won-Joo Yun, Jae-Hun Jung, Kang Sukyong, Kyung-woo Nam, Hyunui Lee, Kyomin Sohn, In-Dal Song, Park Yong-Sik
Publikováno v:
A-SSCC
This paper presents a HBM device which verifies DC and AC characteristics of I/O circuits without direct contact on the u-bump. To verify DC and AC characteristics internally, design for excellence (DFx) circuits are implemented. Also, to perform acc
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::13371010392315c40c16666119735ceb
https://doi.org/10.1109/asscc.2016.7844162
https://doi.org/10.1109/asscc.2016.7844162
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kim, Min Jun, Lee, Woongyong, Choi, Jae Yeon, Park, Yong Sik, Park, Sung Ho, Chung, Goobong, Han, Kyung-Lyong, Choi, Il Seop, Suh, Il Hong, Choi, Youngjin, Chung, Wan Kyun
Publikováno v:
2016 IEEE International Conference on Robotics & Automation (ICRA); 2016, p2340-2346, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.