Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"P.M. Forssell"'
Publikováno v:
Proceedings of the 2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2001 (Cat. No.01TH8548).
The equipment and software for X-ray laminography has advanced rapidly in recent years. The latest systems can distinguish features as small as 5 /spl mu/m in diameter and identify their locations to within 10 /spl mu/m in three dimensions within an
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c91755b8bd3eafdd0aa4e3984779b869
https://doi.org/10.1109/ipfa.2001.941474
https://doi.org/10.1109/ipfa.2001.941474
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.