Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"P.B. Kenway"'
Autor:
Matthew P. Halsall, Isabelle Berbezier, I. D. Hawkins, A. Ronda, Anthony R. Peaker, Alain Portavoce, P.B. Kenway, F. Volpi
Publikováno v:
Materials Science and Engineering: B
Materials Science and Engineering: B, 2003, 101 (1-3), pp.338-344. ⟨10.1016/S0921-5107(02)00755-9⟩
Materials Science and Engineering: B, Elsevier, 2003, 101 (1-3), pp.338-344. ⟨10.1016/S0921-5107(02)00755-9⟩
Materials Science and Engineering: B, 2003, 101 (1-3), pp.338-344. ⟨10.1016/S0921-5107(02)00755-9⟩
Materials Science and Engineering: B, Elsevier, 2003, 101 (1-3), pp.338-344. ⟨10.1016/S0921-5107(02)00755-9⟩
The electronic behaviour of boron-doped single germanium layers grown in a silicon matrix by solid source MBE has been studied by deep level transient spectroscopy (DLTS) and photoluminescence (PL). The structures result from the Si-capping of nine m
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::bf802a0d5190605ff2d57a4a526198bf
https://doi.org/10.1016/s0921-5107(02)00755-9
https://doi.org/10.1016/s0921-5107(02)00755-9
Autor:
P.B. Kenway, G. Cliff
Publikováno v:
Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America. 47:200-201
The ultimate goal of analytical electron microscopy (AEM) is a minimum detection limit, MDL, of one atom! Utilising the small probes and the high current densities attainable using a field emission gun, FEG, in a scanning transmission electron micros
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::15a9f8d11a93c38c1c4863dab286237f
https://doi.org/10.1017/s0424820100152975
https://doi.org/10.1017/s0424820100152975
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
P.B. Kenway, P.J. Duke
The first ICXOM congress held in Cambridge was the brain-child of Dr. Ellis Cosslett, founder of the Electron Optics Section of the Cavendish Laboratory. Dr. Cosslett pioneered research in x-ray optics and microanalysis and retained a close interest
