Zobrazeno 1 - 10
of 55
pro vyhledávání: '"P.A. Rosenthal"'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Appiled Superconductivity. 5:3397-3400
New process/structure designs for the channel in the vortex flux-flow transistor (VFFT) have been explored utilizing thin YBCO films on silicon wafers. Two designs are reported: first, films on micromachined Si(100) surfaces, and second, films ex-sit
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e7dca4906adc75b64b25af578f1a8a12
https://doi.org/10.1109/77.403321
https://doi.org/10.1109/77.403321
Publikováno v:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity. 3:2702-2705
A kinetic inductance memory cell is examined. Such a memory cell can be made small and is more tolerant of the effects of nearby trapped flux than the conventional method of storing data. However, magnetic control of the cell is lost and current inje
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2ffa0345f280e6df05c61b83d5df3873
https://doi.org/10.1109/77.233984
https://doi.org/10.1109/77.233984
Publikováno v:
IEEE Transactions on Appiled Superconductivity. 2:95-100
A Josephson memory cell based on kinetic inductance is proposed and analyzed. The size of the cells can be as small as 1/100 that of conventional superconducting memory cells. However, the kinetic inductance memory cell cannot utilize magnetically co
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c7e2c54c0b6ff8a26cc79d9928128af7
https://doi.org/10.1109/77.139225
https://doi.org/10.1109/77.139225
Publikováno v:
JEDEC (formerly the GaAs REL Workshop) ROCS Workshop, 2004..
We have conducted accelerated lifetesting on discrete HBTs fabricated with the IBM SiGe5HP HBT technology, and determined the dependence of the wear-out on emitter interconnect temperature and current density. The wearout occurred by degradation of D
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::74a1be4d59ac96898dc20979cf413ee4
https://doi.org/10.1109/rocs.2004.184344
https://doi.org/10.1109/rocs.2004.184344
Publikováno v:
2001 IEEE International SOI Conference. Proceedings (Cat. No.01CH37207).
This report summarizes recent advances in the application of the On-Line's FTIR FilmExpert/sup TM/ metrology tool for the characterization and uniformity control of SIMOX wafers. The SOI buried layer needs to be uniform within +/5%. This translates t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::819d0a0d26154fc32dc6e5e78810d389
https://doi.org/10.1109/soic.2001.957974
https://doi.org/10.1109/soic.2001.957974
Autor:
S. Farquhanson, Wenhua Zhu, S. Charpenay, P.A. Rosenthal, Sotiris E. Pratsinis, M.B. DiTaranto
Publikováno v:
Synthesis and Characterization of Advanced Materials ISBN: 9780841235403
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::23909a08d0636bf65558c84d0b41636e
https://doi.org/10.1021/bk-1998-0681.ch016
https://doi.org/10.1021/bk-1998-0681.ch016
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.