Zobrazeno 1 - 10
of 213
pro vyhledávání: '"P. Schwider"'
Grazing incidence interferometry has been applied to rough planar and cylindrical surfaces. As suitable beam splitters diffractive optical phase elements are quite common because these allow for the same test sensitivity for all surface points. But a
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1612.08046
Publikováno v:
Journal of the European Optical Society-Rapid Publications, Vol 10, p 15003 (2015)
Phase “extraction” by using temporal phase shifting is sensitive to vibrations and drifts, producing systematic phase errors periodic withtwice the fringe frequency. This error source may be avoided by evaluating only single carrier frequency int
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/be78a6a52a7447b8967fe9a0e8baba12
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
P. Schwider, M. Wäny, Nicolas Blanc, Peter Seitz, M. Willemin, G. K. Lang, Stefan Lauxtermann
Publikováno v:
Optics and Lasers in Engineering. 36:185-194
The accurate measurement of the optoelectronic properties of imaging sensors is of utmost importance for their appropriate use in various modern application fields, such as in metrology, quality control, environmental monitoring, medicine or for auto
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2e79bcdaf06caf86730e017aadae14d9
https://doi.org/10.1016/s0143-8166(01)00035-5
https://doi.org/10.1016/s0143-8166(01)00035-5
Autor:
Lehmann, Peter, Osten, Wolfgang, Albertazzi Gonçalves, Armando, Rothau, S., Mantel, K., Schwider, J., Lindlein, N.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; August 2019, Vol. 11056 Issue: 1 p110561F-110561F-14, 10945554p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318).
For high speed imaging applications an active pixel sensor (APS) with a resolution of 256/spl times/256 pixel has been integrated in 0.5 /spl mu/m CMOS technology. The rectangular pixels create a chessboard like distribution of photosensitive sites t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b3affe1a6fd52344a9e55229aa686801
https://doi.org/10.1109/iedm.1999.824288
https://doi.org/10.1109/iedm.1999.824288
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.