Zobrazeno 1 - 10
of 13
pro vyhledávání: '"P. Ruzakowski-Athey"'
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films. 15:998-1006
The optical properties of a mixed-metal oxide thin film from the Co3−x−yCrxFeyO4 family has been determined from combined analysis of ellipsometry, atomic force microscopy, and transmittance measurements. These types of films are useful as solar
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::df7f4b4391ae14bf3a8260affb32bc67
https://doi.org/10.1116/1.580794
https://doi.org/10.1116/1.580794
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films. 14:685-692
The optical constants of Co3O4films were determined by analyzing variable angle of incidence spectroscopic ellipsometry data and normal incidence transmittance data, between 3500 and 17 000 A. Absorption was taken to be nonzero for the soda–lime–
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::05216c4705b55ef5b67a7d731646d3d8
https://doi.org/10.1116/1.580372
https://doi.org/10.1116/1.580372
Publikováno v:
Thin Solid Films. 253:326-332
Variable-angle spectroscopic ellipsometry is used for ex situ investigation of thin films deposited on substrates. Calculation of the thickness and optical properties of a number of films in a multilayer stack is possible, because a large amount of d
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cb3a5cd06dc2469ba1d2452d97bd0684
https://doi.org/10.1016/0040-6090(94)90342-5
https://doi.org/10.1016/0040-6090(94)90342-5
Autor:
P. Ruzakowski-Athey, S. D. Walck
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 4:342-343
The analysis of Selected Area Diffraction (SAD) patterns that are collected from a single phase material having sufficient crystallites to provide continuous rings is relatively straightforward. However, when this condition is not met and there may b
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::71d94703dd89505230cc5ef3358320f7
https://doi.org/10.1017/s1431927600021838
https://doi.org/10.1017/s1431927600021838
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures. 14:3436
Variable angle of incidence spectroscopic ellipsometry, reflectance, and transmittance techniques were used to determine the optical constants of a fluorine doped tin oxide film deposited by chemical vapor deposition onto a hot soda‐lime‐silica g
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4f3b6fc96afe282220e9347dc8397c2e
https://doi.org/10.1116/1.588776
https://doi.org/10.1116/1.588776
Publikováno v:
Thin Solid Films; December 1994, Vol. 253 Issue: 1-2 p326-332, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.