Zobrazeno 1 - 10
of 33
pro vyhledávání: '"P. Pianezza"'
Publikováno v:
PLoS Genetics, Vol 20, Iss 3, p e1011201 (2024)
During the last few centuries D. melanogaster populations were invaded by several transposable elements, the most recent of which was thought to be the P-element between 1950 and 1980. Here we describe a novel TE, which we named Spoink, that has inva
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/1b4bd7157aa44143b56fdeda20e6e087
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Elaine Brito, Nolwenn Pianezza
Publikováno v:
In Situ, Vol 33 (2017)
This article takes a look at the way the idea of heritage safeguarding is understood in Brasil, viewed from the point of view of intangible heritage policies in this country. Our diachronic analysis of the concept allows us to indentify several chara
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/2b1fb956bb504ac8a8b76799f917fce3
Autor:
Massimo Liverani, G. Moccia, T. Lippa, Monica Ceresoli, Maria Luisa Polignano, G. Polsinelli, D. Codegoni, P. Pianezza, R. Alfonsetti, Felice Russo, I. Mica, A. Patacchiola, Antonio Domenico D'Angelo, E. Cazzini, G. Nardone, M. Carlini
Publikováno v:
Solid-State Electronics. 91:91-99
In complementary metal–oxide-semiconductor (CMOS) imager sensors, metallic contamination is a critical issue because it induces dark current and increases yield loss. Therefore, the challenge is to identify and eliminate progressively lower doses o
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::38d94c03d7ed60a4a77cd854c7002e95
https://doi.org/10.1016/j.sse.2013.10.011
https://doi.org/10.1016/j.sse.2013.10.011
Publikováno v:
2007 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC).
Surface photo voltage (SPV) measurement has become an important semiconductor characterization tool due to the availability of commercial equipment and its non-contact nature. In this study, we discuss the application of the SPV technique for the con
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c9161a9002d325a468d1982be723e522
https://doi.org/10.1109/asmc.2007.375116
https://doi.org/10.1109/asmc.2007.375116
Autor:
K. Noonan, P. Bernard, P. Vandenborre, E. J. Pauwels, M.J. Huiskes, P. Pianezza, M. De Maddalena
Publikováno v:
Digital Media Processing for Multimedia Interactive Services.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7ea1231b9897a151349d08b1ede303cf
https://doi.org/10.1142/9789812704337_0097
https://doi.org/10.1142/9789812704337_0097
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.