Zobrazeno 1 - 10
of 51
pro vyhledávání: '"P. Nicollian"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
P. Nicollian, K. Eriguchi
Publikováno v:
IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest..
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0851cd68e3f846af68153ab344282c5e
https://doi.org/10.1109/iedm.2005.1609358
https://doi.org/10.1109/iedm.2005.1609358
Autor:
T. Breedijk, D. Rogers, Maureen A. Hanratty, P. Mei, Ih-Chin Chen, Iqbal Ali, Jorge A. Kittl, Amitava Chatterjee, P. Nicollian, S. Murtaza, A. Amerasekera, Somnath S. Nag
Publikováno v:
Proceedings of Technical Papers. International Symposium on VLSI Technology, Systems, and Applications.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::867ae208e103ccc114f9f63d79938371
https://doi.org/10.1109/vtsa.1997.614744
https://doi.org/10.1109/vtsa.1997.614744
Autor:
M. Rodder, S. Hattangady, N. Yu, W. Shiau, P. Nicollian, T. Laaksonen, C.P. Chao, M. Mehrotra, C. Lee, S. Murtaza, S. Aur
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1998. Technical Digest (Cat. No.98CH36217).
CMOS technology is being scaled to sub-0.1 /spl mu/m gate length and to power supply (V/sub dd/) of 1.2 V for applications of high density at lower active power than achievable with a 1.5 V-1.8 V CMOS. Many challenges are observed at this technology
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a5b899d10d3c3cd1f3c019803b78ecdf
https://doi.org/10.1109/iedm.1998.746435
https://doi.org/10.1109/iedm.1998.746435
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.