Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"P. Krottenthalerc"'
Autor:
Hans Richter, W. von Ammon, G. Kissinger, T. Grabolla, T. Müller, Walter Dipl.-Phys. Dr. Häckl, Andreas Sattler, P. Krottenthalerc
Publikováno v:
Materials Science in Semiconductor Processing. 9:236-240
Ham's theory was applied in order to become independent of detection limits for oxide precipitates and to quantify the phenomenon of oxygen loss to invisible BMDs during thermal treatments. The density of detectable bulk micro-defects (BMDs) depends
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::af9198b9eed85a69320252f210a3d0c2
https://doi.org/10.1016/j.mssp.2006.01.039
https://doi.org/10.1016/j.mssp.2006.01.039
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.