Zobrazeno 1 - 10
of 56
pro vyhledávání: '"P-M Coulon"'
Autor:
É. Vignon, K. Arjdal, F. Cheruy, M. Coulon‐Decorzens, C. Dehondt, T. Dubos, S. Fromang, F. Hourdin, L. Lange, L. Raillard, G. Rivière, R. Roehrig, A. Sima, A. Spiga, P. Tiengou
Publikováno v:
Journal of Advances in Modeling Earth Systems, Vol 16, Iss 10, Pp n/a-n/a (2024)
Abstract This study presents the development of a so‐called Turbulent Kinetic Energy (TKE)‐l, or TKE‐l, parameterization of the diffusion coefficients for the representation of turbulent diffusion in neutral and stable conditions in large‐sca
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/520fa8fa4f5a41978ee194f3aedc722e
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Armstrong, R, Coulon, P M, Bozinakis, P, Martin, R W & Shields, P A 2020, ' Creation of regular arrays of faceted AlN nanostructures via a combined top-down, bottom-up approach ', Journal of Crystal Growth, vol. 548, 125824 . https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2020.125824
The realisation of spatially-determined, uniform arrays of faceted aluminium nitride (AlN) nanostructures has had limited exploration, largely due to the fact that selective area growth of AlN via MOVPE (Metal Organic Vapour Phase Epitaxy) has not be
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::75c5779d59feede0be06ba91faa202c9
https://strathprints.strath.ac.uk/74337/1/Armstrong_etal_JCG_2020_Creation_of_regular_arrays_of_faceted_AlN_nanostructures_via_a_combined_topdown.pdf
https://strathprints.strath.ac.uk/74337/1/Armstrong_etal_JCG_2020_Creation_of_regular_arrays_of_faceted_AlN_nanostructures_via_a_combined_topdown.pdf
Autor:
F. Mehnke, A. Alasmari, T. Wernicke, Aimo Winkelmann, Elena Pascal, L. Jiu, S. Hagedorn, Philip A. Shields, B.M. Jablon, W. Avis, Paul R. Edwards, Peter J. Parbrook, M. Nouf-Allehiani, Y. Gong, C. Kuhn, Yonghao Zhang, Gunnar Kusch, Robert W. Martin, Michael Kneissl, Jochen Bruckbauer, Benjamin Hourahine, S. Vespucci, Tao Wang, S. Kraeusel, J. Enslin, R. McDermott, P. M. Coulon, G. Naresh-Kumar, Carol Trager-Cowan, M. D. Smith, Sebastian Walde, R. M. Smith, Markus Weyers, Roy L. Johnston, Arne Knauer, Ken Mingard, David M. Thomson
In this article we describe the scanning electron microscopy (SEM) techniques of electron channelling contrast imaging and electron backscatter diffraction. These techniques provide information on crystal structure, crystal misorientation, grain boun
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ec5daaf27a3bb173a9ce0f9885b89bc6
https://strathprints.strath.ac.uk/74728/7/Trager_Cowan_etal_IOPCS_MSE_2020_Advances_in_electron_channelling_contrast_imaging_and_electron_backscatter_diffraction.pdf
https://strathprints.strath.ac.uk/74728/7/Trager_Cowan_etal_IOPCS_MSE_2020_Advances_in_electron_channelling_contrast_imaging_and_electron_backscatter_diffraction.pdf
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Arne Knauer, Christian Kuhn, Marcus Weyers, M. D. Smith, Benjamin Hourahine, S. Hagedorn, M. Nouf-Allehiani, G. Naresh-Kumar, Elena Pascal, David M. Thomson, Peter J. Parbrook, Y. Gong, Sebastian Walde, A Kotzai, S. Kraeusel, R. M. Smith, W. Avis, Tim Wernicke, Gunnar Kusch, Robert W. Martin, Tao Wang, L. Jiu, Aimo Winkelmann, Johannes Enslin, R. McDermott, A. Alasmari, Yonghao Zhang, Frank Mehnke, Michael Kneissl, Jochen Bruckbauer, Jie Bai, Paul R. Edwards, Philip A. Shields, Gergely Ferenczi, S. Vespucci, P. M. Coulon, Carol Trager-Cowan
Publikováno v:
Semiconductor Science and Technology. 35:054001
The scanning electron microscopy techniques of electron backscatter diffraction (EBSD), electron channelling contrast imaging (ECCI) and cathodoluminescence (CL) hyperspectral imaging provide complementary information on the structural and luminescen
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::badc5c4ecafcbc98c0299df4e120403a
https://doi.org/10.1088/1361-6641/ab75a5
https://doi.org/10.1088/1361-6641/ab75a5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.