Zobrazeno 1 - 10
of 1 319
pro vyhledávání: '"Oxide-trapped charges"'
Publikováno v:
In Radiation Physics and Chemistry December 2021 189
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nanotechnology. 22:157-165
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::73abd19d2e1579a8f6932f1df0526dad
https://doi.org/10.1109/tnano.2023.3255012
https://doi.org/10.1109/tnano.2023.3255012
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of the Korean Physical Society. 77:759-763
The charge trapping characteristics of silicon (Si) substrates covered with a self-assembled monolayer (SAM) were studied using on a local biasing method with Kelvin-probe force microscopy. A hexadecyl SAM (HD-SAM) on a Si substrate, in which the mol
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7f3a2c24bfff58369d4a4276df79c829
https://doi.org/10.3938/jkps.77.759
https://doi.org/10.3938/jkps.77.759
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.