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pro vyhledávání: '"Ouerghi, Issam"'
Autor:
Ouerghi, Issam
Les progrès technologiques de ces dernières années ont permis une très forte intégration des composants de la microélectronique à l'échelle nanométrique. Face aux limites de la miniaturisation classique, les technologies d'intégration en tr
Externí odkaz:
http://www.theses.fr/2015GREAT119/document
Autor:
Gourlat, Guillaume, Sansa, Marc, Villard, Patrick, Sicard, Gilles, Jourdan, Guillaume, Ouerghi, Issam, Billiot, Gérard, Hentz, Sebastien
Publikováno v:
2017 IEEE International Solid-State Circuits Conference-(ISSCC)
2017 IEEE International Solid-State Circuits Conference-(ISSCC), Feb 2017, San Francisco, United States. pp.266-267
2017 IEEE International Solid-State Circuits Conference-(ISSCC), Feb 2017, San Francisco, United States. pp.266-267
International audience; The extreme sensitivity of nano electro mechanical system (NEMS) to atomic scale physical variations has led to the breakthrough development of NEMS-based mass spectrometry systems capable of measuring a single molecule [1]. P
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::f5a349f6667842da6bc56b6099e4bad8
https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-02194505
https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-02194505
Autor:
Ouerghi, Issam, Sansa, Marc, Duraffourg, Laurent, Benedetto, Kevin, Besombes, Paul, Huet, Karim, Mazzamuto, Fulvio, Toque-Tresonne, Ines, Ladner, Carine, Kerdiles, Sebastien, Ludurczak, Willy, Ernst, Thomas
Publikováno v:
2016 IEEE 29th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS); 1/1/2016, p63-66, 4p
Autor:
Ouerghi, Issam, Ludurczak, Willy, Duraffourg, Laurent, Ladner, Carine, Oudrhiri, Anouar Idrissi-El, Gergaud, Patrice, Vinet, Maud, Ernst, Thomas
Publikováno v:
2015 45th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC); 2015, p149-152, 4p
Autor:
Ernst, Thomas, Hentz, Sebatien, Arcamone, Julien, Agache, Vincent, Duraffourg, Laurent, Ouerghi, Issam, Ludurczak, Willy, Ladner, Carine, Ollier, Eric, Andreucci, Philippe, Colinet, Eric, Puget, Pierre
Publikováno v:
2015 45th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC); 2015, p31-35, 5p
Autor:
Ouerghi, Issam, Philippe, Julien, Ladner, Carine, Scheiblin, Pascal, Duraffourg, Laurent, Hentz, Sebastien, Ernst, Thomas
Publikováno v:
2015 28th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS); 2015, p361-364, 4p
Autor:
Philippe, Julien, Ouerghi, Issam, Pollet, Olivier, Hentz, Sebastien, Arcamone, Julien, Ernst, Thomas
Publikováno v:
ECS Transactions; March 2014, Vol. 61 Issue: 2 p395-400, 6p
Akademický článek
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Interband optical properties of silicon [001] quantum wells using a two-conduction-band k · p model.
Autor:
Michelini, Fabienne, Ouerghi, Issam
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 11/28/2011, Vol. 99 Issue 22, p221912, 3p, 1 Chart, 5 Graphs
Autor:
Ernst, Thomas, Ouerghi, Issam, Ludurczak, Willy, Arcamone, Julien, Duraffourg, Laurent, Ollier, Eric, Philippe, Julien, Hentz, Sébastien
Publikováno v:
ECS Transactions; September 2015, Vol. 69 Issue: 10