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pro vyhledávání: '"Ouennoughi, Zahir"'
Publikováno v:
In Solid State Electronics August 2022 194
Akademický článek
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Autor:
Latreche, Abdelhakim1, Ouennoughi, Zahir2
Publikováno v:
International Journal of Numerical Modelling. Mar2015, Vol. 28 Issue 2, p231-238. 8p.
Autor:
Bourouba, Farid, Ouennoughi, Zahir
The race for miniaturization of integrated circuits causes the appearance of anumber of parasitics effects, from degrading the electricals characteristics of thedevices. These are the gate leakage increasing with the reduction of the dielectricthickn
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______166::26d4dbcbec246cc2fe3b6b5ee36c81a0
https://theses.hal.science/tel-01774538
https://theses.hal.science/tel-01774538
Autor:
Bourouba, Farid, Ouennoughi, Zahir
The race for miniaturization of integrated circuits causes the appearance of anumber of parasitics effects, from degrading the electricals characteristics of thedevices. These are the gate leakage increasing with the reduction of the dielectricthickn
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2592::26d4dbcbec246cc2fe3b6b5ee36c81a0
https://theses.hal.science/tel-01774538
https://theses.hal.science/tel-01774538
The present work presents an evaluation approach which enables the in-depth analysis of current-voltage (I-V) characteristics of MIS devices to determine their current transport mechanisms using a multidimensional minimization system program. Exempla
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::0463f48a518156eb0d178013e99c0537
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/239862
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/239862
Autor:
Sellai, Azzouz, Ouennoughi, Zahir, Le Thanh, Vinh, Petit, Matthieu, Michez, Lisa, Mesli, Abdelmadjid
Publikováno v:
16th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference
16th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference, pp.179--182, 2012, ⟨10.1109/MELCON.2012.6196408⟩
16th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference, pp.179--182, 2012, ⟨10.1109/MELCON.2012.6196408⟩
I-V and C-V measurements performed on Au/Mn 5 Ge 3 /n-Ge structures, prepared for spintronic applications, are presented and analysed over a wide range of temperatures (50 K-300 K) with the goal of elucidating the prevailing conduction mechanism(s).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3430::38660fe5cecf0dd2e9a46e1d5de24843
https://hal.science/hal-04063671
https://hal.science/hal-04063671
Autor:
Ouennoughi, Zahir
Publikováno v:
Autre [cond-mat.other]. Université Henri Poincaré-Nancy 1, 1991. Français. ⟨NNT : 1991NAN10221⟩
Not available
Ce mémoire concerne le problème actuel de la passivation du phosphure d'indium qui est un bon candidat pour les circuits électroniques rapides et optoélectroniques. Pour atteindre cet objectif, un diélectrique mince de 50 à 1
Ce mémoire concerne le problème actuel de la passivation du phosphure d'indium qui est un bon candidat pour les circuits électroniques rapides et optoélectroniques. Pour atteindre cet objectif, un diélectrique mince de 50 à 1
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::bd598119da8e1e9ae60b94202c582c80
https://hal.univ-lorraine.fr/tel-01747818
https://hal.univ-lorraine.fr/tel-01747818
Autor:
Ouennoughi, Zahir
Publikováno v:
Autre [cond-mat.other]. Université Henri Poincaré-Nancy 1, 1991. Français. ⟨NNT : 1991NAN10221⟩
Not available
Ce mémoire concerne le problème actuel de la passivation du phosphure d'indium qui est un bon candidat pour les circuits électroniques rapides et optoélectroniques. Pour atteindre cet objectif, un diélectrique mince de 50 à 1
Ce mémoire concerne le problème actuel de la passivation du phosphure d'indium qui est un bon candidat pour les circuits électroniques rapides et optoélectroniques. Pour atteindre cet objectif, un diélectrique mince de 50 à 1
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2592::bd598119da8e1e9ae60b94202c582c80
https://hal.univ-lorraine.fr/tel-01747818
https://hal.univ-lorraine.fr/tel-01747818
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