Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Otto Meijer"'
Autor:
Dennie Meijer, Wietse Eppinga, Roos Mohede, Ben Vanneste, Philip Meijnen, Otto Meijer, Laurien Daniels, Roderick Van den Bergh, Anne Lont, Rosemarijn Ettema, Frederik Oudshoorn, Pim van Leeuwen, Henk Van der Poel, Maarten Donswijk, Daniela Oprea-Lager, Eva Schaake, André Vis
Publikováno v:
Journal of Urology. 207
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
Technical problems with shrinking process node for semiconductor manufacturing has generated considerable interest in the use of multiple beams as an advance manufacturing technique in the context of direct write to mask / wafer. This paper examines
Publikováno v:
Conference Record of the IEEE Industry Applications Society Annual Meeting.
An automatic inspection system for detecting surface defects in flat-rolled aluminium strip is described. The system inspects 100% of the top and bottom surface and incorporates powerful real-time defect classification capabilities. It provides signi
Autor:
Otto Meijer, Adrianus P. Welboren
Publikováno v:
Practical Metallography. 9:32-38
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
In this paper we report our experience using infrared imaging systems to monitor temperature variations in aluminum strip during hot rolling. Because of the low emissivity of aluminum surfaces infrared cameras are sensitive not only to temperature va
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.