Zobrazeno 1 - 10
of 35
pro vyhledávání: '"Ostermayr, M."'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability; September 2023, Vol. 23 Issue: 3 p363-369, 7p
Autor:
Nirschl, Th., Ostermayr, M., Olbrich, A., Vietzke, D., Omer, M., Linnenbank, C., Schaper, U., Pottgiesser, Y., Pottgiesser, J., Johansson, M., Simon, U., Joens, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2003 43(9):1383-1387
Autor:
Morgenfeld, B., Stobert, I., Haffner, H., An, J., Kanai, H., Ostermayr, M., Chen, N., Aminpur, M., Brodsky, C., Thomas, A.
Publikováno v:
Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2011 22nd Annual IEEE/SEMI; 2011, p1-8, 8p
Autor:
Drapatz, S., Fischer, T., Hofmann, K., Amirante, E., Huber, P., Ostermayr, M., Georgakos, G., Schmitt-Landsiedel, D.
Publikováno v:
2009 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference; 2009, p93-96, 4p
Autor:
Arnaud, F., Thean, A., Eller, M., Lipinski, M., Teh, Y.W., Ostermayr, M., Kang, K., Kim, N.S., Ohuchi, K., Han, J.-P., Nair, D.R., Lian, J., Uchimura, S., Kohler, S., Miyaki, S., Ferreira, P., Park, J.-H., Hamaguchi, M., Miyashita, K., Augur, R.
Publikováno v:
2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM); 2009, p1-4, 4p
Autor:
Yang, H.S., Wong, R., Hasumi, R., Gao, Y., Kim, N.S., Lee, D.H., Badrudduza, S., Nair, D., Ostermayr, M., Kang, H., Zhuang, H., Li, J., Kang, L., Chen, X., Thean, A., Arnaud, F., Zhuang, L., Schiller, C., Sun, D.P., Teh, Y.W.
Publikováno v:
2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-4, 4p
Publikováno v:
ESSDERC 2008 - 38th European Solid-State Device Research Conference; 2008, p51-54, 4p
Autor:
Fischer, T., Otte, C., Schmitt-Landsiedel, D., Amirante, E., Olbrich, A., Huber, P., Ostermayr, M., Nirschl, T., Einfeld, J.
Publikováno v:
2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 2007, p63-66, 4p
Autor:
Nirschl, Th., Wang, P.-F., Weber, C., Sedlmeir, J., Heinrich, R., Kakoschke, R., Schrufer, K., Holz, J., Pacha, C., Schulz, T., Ostermayr, M., Olbrich, A., Georgakos, G., Ruderer, E., Hansch, W., Schmitt-Landsiedel, D.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p195-198, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.