Computer modeling of local tribological contacts by the example of the automotive brake friction pair

Autor: Dmitriev, A.I., Smolin, A.Yu., Psakhie, S.G., Osterle, W., Kloss, H., Popov, V.L.

Publikováno v: In Physical Mesomechanics 2008 11(1):73-84

Calculations of Auger intensity versus beam position for a sample with layers perpendicular to its surface

Autor: Zommer, L, Jablonski, A, Senoner M, Th, Wirth, Unger W, Osterle W, Kaiander I

Publikováno v: Journal of Physics D: Applied Physics
Journal of Physics D: Applied Physics, IOP Publishing, 2010, 43 (27), pp.275301. ⟨10.1088/0022-3727/43/27/275301⟩

Recent advances in nanotechnology are a driving force for the improvement of lateral resolution in advanced analytical techniques such as scanning electron microscopy or scanning Auger microscopy (SAM). Special samples with multilayers which are perp

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::438f2a0fd10e1f6c70cee32dd59e3e86
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00569642/document

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.