Zobrazeno 1 - 10
of 251
pro vyhledávání: '"Opsomer, K."'
Autor:
Clima, S., Garbin, D., Devulder, W., Keukelier, J., Opsomer, K., Goux, L., Kar, G.S., Pourtois, G.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 15 July 2019 215
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Antony Premkumar, P., Carbonell, L., Schaekers, M., Opsomer, K., Adelmann, C., Richard, O., Bender, H., Franquet, A., Meersschaut, J., Wen, L., Zsolt, T., Van Elshocht, S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 25 May 2014 120:246-250
Autor:
Geenen, F.A., Knaepen, W., De Keyser, K., Opsomer, K., Vanmeirhaeghe, R.L., Jordan-Sweet, J., Lavoie, C., Detavernier, C.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 31 January 2014 551:86-91
Autor:
De Stefano, F., Afanas’ev, V.V., Houssa, M., Stesmans, A., Opsomer, K., Jurczak, M., Goux, L.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering September 2013 109:156-159
Autor:
Afanas'ev, V.V., De Stefano, F., Houssa, M., Stesmans, A., Goux, L., Opsomer, K., Detavernier, C., Kittl, J.A., Jurczak, M.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 30 April 2013 533:34-37
Thermal-stability optimization of Al2O3/Cu–Te based conductive-bridging random access memory systems
Autor:
Goux, L., Opsomer, K., Franquet, A., Kar, G., Jossart, N., Richard, O., Wouters, D.J., Müller, R., Detavernier, C., Jurczak, M., Kittl, J.A.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 30 April 2013 533:29-33
Autor:
Tous, L., van Dorp, D.H., Russell, R., Das, J., Aleman, M., Bender, H., Meersschaut, J., Opsomer, K., Poortmans, J., Mertens, R.
Publikováno v:
In Energy Procedia 2012 21:39-46
Autor:
Ramesh, S., Palayam, S. V., Ajaykumar, A., Opsomer, K., Bastos, J., Ragnarsson, L. -A., Breuil, L., Arreghini, A., Wouters, L., Spampinato, V., Favia, P., Mehta, A. N., Carolan, P., Nyns, L., Katcko, K., Stiers, J., Van Den Bosch, G., Rosmeulen, M.
Publikováno v:
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2803ad2edf9150f2620fb5c6e9aca4b5
https://doi.org/10.1109/iedm19574.2021.9720571
https://doi.org/10.1109/iedm19574.2021.9720571