Zobrazeno 1 - 10 of 101 pro vyhledávání: '"Opila, R. L."'
1
Akademický článek
Energy level alignment at organic semiconductor/metal interfaces: Effect of polar self-assembled monolayers at the interface.
Autor: Demirkan, K., Mathew, A., Weiland, C., Yao, Y., Rawlett, A. M., Tour, J. M., Opila, R. L.
Publikováno v: Journal of Chemical Physics; 2/21/2008, Vol. 128 Issue 7, p074705, 6p, 2 Diagrams, 5 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Reactivity and morphology of vapor-deposited Al/polymer interfaces for organic semiconductor devices.
Autor: Demirkan, K., Mathew, A., Weiland, C., Reid, M., Opila, R. L.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; Feb2008, Vol. 103 Issue 3, p034505, 7p, 3 Diagrams, 8 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
X-ray photoelectron spectroscopy of nitromethane adsorption products on Si(100): A model for N 1s core-level shifts in silicon oxynitride films.
Autor: Eng Jr., J., Hubner, I. A., Barriocanal, J., Opila, R. L., Doren, D. J.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 2/15/2004, Vol. 95 Issue 4, p1963-1968, 6p, 1 Diagram, 2 Charts, 1 Graph
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Wet chemical cleaning of InP surfaces investigated by in situ and ex situ infrared spectroscopy.
Autor: Pluchery, O., Chabal, Y. J., Opila, R. L.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 8/15/2003, Vol. 94 Issue 4, p2707-2715, 9p, 1 Diagram, 8 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Material and electrical characterization of carbon-doped Ta[sub 2]O[sub 5] films for embedded dynamic random access memory applications.
Autor: Chu, K., Chang, J. P., Steigerwald, M. L., Fleming, R. M., Opila, R. L., Lang, D. V., Van Dover, R. B., Jones, C. D. W.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 1/1/2002, Vol. 91 Issue 1, p308, 9p, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 2 Charts, 6 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Profiling nitrogen in ultrathin silicon oxynitrides with angle-resolved x-ray photoelectron spectroscopy.
Autor: Chang, J. P., Green, M. L., Donnelly, V. M., Opila, R. L., Eng, J., Sapjeta, J., Silverman, P. J., Weir, B., Lu, H. C., Gustafsson, T., Garfunkel, E.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 5/1/2000, Vol. 87 Issue 9, p4449, 7p, 1 Diagram, 2 Charts, 7 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
The interface formation of copper and low dielectric constant fluoro-polymer: Plasma surface...
Autor: Du, M., Opila, R. L.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 2/1/1999, Vol. 85 Issue 3, p1496, 7p, 1 Black and White Photograph, 1 Chart, 7 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Electrical conduction mechanism in semi-insulating polycrystalline silicon films.
Autor: Comizzoli, R. B., Opila, R. L.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 1/1/1987, Vol. 61 Issue 1, p261, 10p, 2 Black and White Photographs, 3 Diagrams, 10 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Stress free and moisture insensitive silicon oxide dielectric films formed by molecular-beam deposition.
Autor: Chand, Naresh, Kola, R. R., Opila, R. L., Comizzoli, R. B., Krautter, H., Sergent, A. M., Tsang, W. T., Osenbach, J. W., Luftman, H. S.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 9/1/1995, Vol. 78 Issue 5, p3315, 8p, 4 Charts, 10 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
In situ x-ray photoelectron spectroscopy study of aluminum/poly (p-phenylenevinylene) interfaces.
Autor: Konstadinidis, K., Papadimitrakopoulos, F., Galvin, M., Opila, R. L.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 6/1/1995, Vol. 77 Issue 11, p5642, 5p, 5 Graphs
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje