Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"Ong, Hock Guan"'
Autor:
Wang, Le, Dash, Sibashisa, Chang, Lei, You, Lu, Feng, Yaqing, He, Xu, Jin, Kui-juan, Zhou, Yang, Ong, Hock Guan, Ren, Peng, Wang, Shiwei, Chen, Lang, Wang, Junling
Oxygen vacancy is intrinsically coupled with magnetic, electronic and transport properties of transition-metal oxide materials and directly determines their multifunctionality. Here, we demonstrate reversible control of oxygen content by post-anneali
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1602.03310
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
FPGAs have emerged as a popular platform for security sensitive applications. As a practical attack methodology, laser based fault analyses have drawn much attention in the past years due to its superior accuracy in fault perturbation into security-c
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1392::0328609a6a79787a1ef70754cec78b76
http://hdl.handle.net/10220/42300
http://hdl.handle.net/10220/42300
Autor:
Ong Hock Guan, Ngeah Theng Chua, Lang Chen, Xi Zou, Gaofeng Chen, Lu You, Weigang Chen, Junling Wang
Publikováno v:
Thin Solid Films. 518:e169-e173
The polarization relaxation phenomenon in a 40-nm-thick epitaxial BiFeO 3 thin film grown on a (001) SrTiO 3 substrate with SrRuO 3 bottom electrode, was studied in nanoscale using dual-frequency resonance-tracking piezoresponse force microscopy. The
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::70f75429e01f7d46637e49de65979931
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2010.03.089
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2010.03.089
Publikováno v:
Volume 6B: Materials and Fabrication.
In-line inspection (ILI) of the main 48” × 21 mm wall thickness API 5L grade X70 export gas pipeline of an offshore oil and gas production field was performed. The ILI using a high resolution Magnetic Flux Leak (MFL) pig revealed an anomaly in a g
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::258902f1a21f743217048c18a6fc089d
https://doi.org/10.1115/pvp2015-46005
https://doi.org/10.1115/pvp2015-46005
Publikováno v:
Security, Privacy & Applied Cryptography Engineering (9783319494449); 2016, p47-65, 19p
Autor:
Breier, Jakub, He, Wei, Bhasin, Shivam, Jap, Dirmanto, Chef, Samuel, Ong, Hock Guan, Gan, Chee Lip
Publikováno v:
Journal of Hardware and Systems Security; September 2017, Vol. 1 Issue: 3 p237-251, 15p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.