Zobrazeno 1 - 10
of 101
pro vyhledávání: '"Oncel, N."'
In this study, we employed lateral force microscopy, a specialized technique within atomic force microscopy, to explore the nanoscale frictional properties of 2D SnSe and SnSe$_2$ layers, and we compared these findings with graphene, a commonly used
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2411.00122
We investigated the thermal resistance of SnSe nanoflakes using scanning thermal microscopy, an extension of atomic force microscopy that allows for nanoscale thermal mapping. The nanoflakes studied ranged in thickness from 5 nm to 40 nm, enabling us
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2410.02009
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Physical Chemistry C; 9/19/2019, Vol. 123 Issue 37, p22873-22886, 14p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
The Journal of Physical Chemistry - Part C; September 2019, Vol. 123 Issue: 37 p22873-22886, 14p