Zobrazeno 1 - 10
of 4 650
pro vyhledávání: '"On-board electronics"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Fuschino, Fabio, Campana, Riccardo, Labanti, Claudio, Amati, Lorenzo, Virgilli, Enrico, Terenzi, Luca, Bellutti, Pierluigi, Bertuccio, Giuseppe, Borghi, Giacomo, Ficorella, Francesco, Gandola, Massimo, Grassi, Marco, La Rosa, Giovanni, Lorenzi, Paolo, Malcovati, Piero, Mele, Filippo, Orleański, Piotr, Picciotto, Antonino, Rachevski, Alexandre, Rashevskaya, Irina, Santangelo, Andrea, Sarra, Paolo, Sottile, Giuseppe, Tenzer, Christoph, Vacchi, Andrea, Gianluigi, Zampa, Zampa, Nicola, Zorzi, Nicola, hedderman, Paul, Winkler, M., Gemelli, Alessandro, Kuvvetli, Ifran, Pedersen, Søren Møller, Tcherniak, Denis, Jensen, Lucas Christoffer Bune
The X and Gamma Imaging Spectrometer instrument on-board the THESEUS mission (selected by ESA in the framework of the Cosmic Vision M5 launch opportunity, currently in phase A) is based on a detection plane composed of several thousands of single act
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2102.08694
Autor:
Chechenin, N. G.1 (AUTHOR) nchechenin@yandex.ru, Novikov, N. V.1 (AUTHOR), Shirokova, A. A.1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Physics of Atomic Nuclei. Apr2023, Vol. 86 Issue 2, p188-197. 10p.
Autor:
Richartz, Achim
Currently discussed trends and new technologies regarding cloud or edge computing imply that even most recent designs and functionalities of digital on-board-control electronics may be outdated and eventually will totally disappear. Additionally, tho
Externí odkaz:
https://tud.qucosa.de/id/qucosa%3A71191
https://tud.qucosa.de/api/qucosa%3A71191/attachment/ATT-0/
https://tud.qucosa.de/api/qucosa%3A71191/attachment/ATT-0/
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2013 53(12):1996-2004
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Applied Thermal Engineering 2010 30(10):1115-1125