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Memorias congreso internacional de ingenierías - CIDIFAM y CIICT

Autor: Chaparro Becerra, William Fabián, López Candela, William Fernando, Montenegro Narváez, Carlos Enrique, Silva Larrotta, Jorge René, Gil Peláez, Jhon Jairo, Valencia Niño, Cesar Hernando, Pardo Beainy, Camilo Ernesto, Ávila Barón, Adolfo, Gutiérrez Cáceres, Edgar Andrés, Sosa Quintero, Luis Fredy, Salazar Madrigal, Angélica María, León Medina, Carlos Alberto, Hernández, Arnold Wiesner, Galarza Bogotá, Cesar Mauricio, Forero García, Edwin Francisco, Torres Pinzón, Carlos Andrés, Rúa Ramírez, Edwim Blasnilo, Hernández Moreno, Saúl Andrés, Álvarez Camargo, Pablo Andrés, Quintero Gamboa, Yina Faizully, González Mancilla, Yenny Marlén, Salamanca Sarmiento, Juan Rodrigo, Hernández Molano, Alonso, Amaya, Sindy Paola, Anaya Vejar, Maribel, Garrido Silva, Gianina, Mateus Rojas, Armando, Guarnizo Marín, José Guillermo, Mancipe Saavedra, Joaquín Alberto, Vitola Oyaga, Jaime, Gutiérrez Arias, Germán Andrés, Acosta Joya, Luis Fernando, Higuera Sánchez, Fabián Leonardo, Torres Díaz, Edwin, Espitia Cárdenas, Teresa, Ortiz González, Julián Andrés, Paternina Durán, José Luis, Villamizar Cruz, Nelson Iván, Cely Guezguan, Leonardo, Aguirre Rodríguez, Carlos Andrés, Cruz Capador, Gerson David, Duarte Barón, Katherín, Álvarez Castañeda, William Fernando, Gacha Bohórquez, Jesús Guillermo, Hincapié Ladino, Duberney, Segura Torres, Darío Alejandro, Ferrer Martínez, Jesús Enrique, Rodríguez Herreño, Brayan Andrés, Isaza Domínguez, Lauren Genith, González Guzmán, Eduardo Andrés, Castro Jaluba, William Razvan, Carreño Zagarra, José Jorge, Hernández Lamprea, Hernán José, Olaya Benítez, Emerson Jassán, Páez Ardila, Diego Ricardo, Páez Casas, Deisy Carolina, Palacio Osorio, Gloria Judith, Quiroga Pineda, John Leonardo, Cardona Coy, Carlos Alberto

Las Facultades de Ingeniería Electrónica, Ingeniería Mecánica e Ingeniería Mecatrónica de la Universidad Santo Tomás a nivel Colombia, junto con las Direcciones de Relaciones Internacionales, la Rama Estudiantil IEEE, los Capítulos EDS, RAS,

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3896::ca324d987f79ab7b68515602cb1147d0
https://hdl.handle.net/11634/44648

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