Zobrazeno 1 - 10
of 568
pro vyhledávání: '"Okagaki∗‡, T."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Physica B: Physics of Condensed Matter 1999 272(1):554-557
Autor:
Okagaki, T., Shibutani, K., Matsushita, H., Ojiro, H., Morimoto, M., Tsukamoto, Y., Nii, K., Onozawa, K.
Publikováno v:
Proceedings of the 2015 International Conference on Microelectronic Test Structures; 2015, p141-144, 4p
Autor:
Okagaki, T., Hasegawa, T., Takashino, H., Fujii, M., Tsuda, A., Shibutani, K., Deguchi, Y., Yokota, M., Onozawa, K.
Publikováno v:
2013 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS); 2013, p203-206, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Takashino, H., Tanizawa, M., Okagaki, T., Hayashi, T., Taya, M., Ishida, H., Ishikawa, K., Inoue, Y.
Publikováno v:
2011 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes & Devices (SISPAD); 2011, p107-110, 4p
Autor:
Grasser, Tibor, Selberherr, Siegfried, Takashino, H., Okagaki, T., Uchida, T., Hayashi, T., Tanizawa, M., Tsukuda, E., Eikyu, K., Wakahara, S., Ishikawa, K., Tsuchiya, O., Inoue, Y.
Publikováno v:
Simulation of Semiconductor Processes & Devices 2007; 2007, p105-108, 4p
Autor:
Grasser, Tibor, Selberherr, Siegfried, Tsukuda, E., Kamakura, Y., Takashino, H., Okagaki, T., Uchida, T., Hayashi, T., Tanizawa, M., Eikyu, K., Wakahara, S., Ishikawa, K., Tsuchiya, O., Inoue, Y., Taniguchi, K.
Publikováno v:
Simulation of Semiconductor Processes & Devices 2007; 2007, p29-32, 4p
Publikováno v:
2006 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes & Devices; 2006, p154-157, 4p
Autor:
Okagaki, T., Tanizawa, M., Fujinaga, M., Kunikiyo, T., Yuki, H., Ishikawa, K., Nishikawa, Y., Eimori, T., Inuishi, M., Oji, Y.
Publikováno v:
Proceedings of the 2005 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2005 (ICMTS 2005); 2005, p219-222, 4p