Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Oing, Dennis"'
We report on mask-less, high resolution etching of diamond surfaces, featuring sizes down to 10 nm. We use a scanning electron microscope (SEM) together with water vapor, which was injected by a needle directly onto the sample surface. Using this ver
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1903.10824
Autor:
Oing, Dennis1 dennis.oing@uni-due.de, Geller, Martin1, Stahl, Lucas1, Kerski, Jens1, Lorke, Axel1, Wöhrl, Nicolas1
Publikováno v:
Scientific Reports. 7/27/2020, Vol. 10 Issue 1, p1-6. 6p.
Autor:
Oing, Dennis
Silizium ist das derzeit bedeutendste Halbleitermaterial und der gr����te Teil der Halbleiterindustrie basiert auf diesem Material. F��r zuk��nftige Anwendungen kann es aber sinnvoll sein, den Anwendungsbereich von Halbleitermateriali
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::9d32ac3a9fcbacd172cb37be98041398
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.