Výsledky vyhledávání - "Ohji, Y."

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "Ohji, Y."
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 299 pro vyhledávání: '"Ohji, Y."'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Akademický článek

Positron annihilation in SiO2/Si structure at low temperature.

Autor: Uedono, A., Moriya, T., Tanigawa, S., Kawano, T., Ohji, Y.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 9/1/1995, Vol. 78 Issue 5, p3269, 5p, 7 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 2 2

Akademický článek

Positronium formation in SiO2 films grown on Si substrates studied by monoenergetic positron beams.

Autor: Uedono, A., Wei, L., Tanigawa, S., Suzuki, R., Ohgaki, H., Mikado, T., Kawano, T., Ohji, Y.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 4/15/1994, Vol. 75 Issue 8, p3822, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 3 3

Akademický článek

Positron annihilation in a metal-oxide semiconductor studied by using a pulsed monoenergetic positron beam.

Autor: Uedono, A., Wei, L., Tanigawa, S., Suzuki, R., Ohgaki, H., Mikado, T., Ohji, Y.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 12/15/1993, Vol. 74 Issue 12, p7251, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 4 4

Akademický článek

Stoichiometry measurement and electric characteristics of thin-film Ta2O5 insulator for ultra-large-scale integration.

Autor: Shimizu, K., Katayama, M., Funaki, H., Arai, E., Nakata, M., Ohji, Y., Imura, R.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 7/1/1993, Vol. 74 Issue 1, p375, 6p, 2 Charts, 6 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 5 5

Akademický článek

Depth and lateral resolution of laser-assisted atom probe microscopy of silicon revealed by isotopic heterostructures.

Autor: Shimizu, Y., Kawamura, Y., Uematsu, M., Tomita, M., Kinno, T., Okada, N., Kato, M., Uchida, H., Takahashi, M., Ito, H., Ishikawa, H., Ohji, Y., Takamizawa, H., Nagai, Y., Itoh, K. M.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; Feb2011, Vol. 109 Issue 3, p036102, 3p, 1 Diagram, 2 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 6 6

Conference

Flexibly-Shaped-Pulse flash lamp annealing with assisted temperature control (FSP-FLAplus) to realize a wide range of annealing conditions.

Autor: Kato, S., Onizawa, T., Aoyama, T., Ikeda, K., Ohji, Y.

Publikováno v: 2010 International Workshop on Junction Technology (IWJT); 2010, p1-4, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 7 7

Conference

Pre-existing and process induced defects in high-k gate dielectrics ∼direct observation with EBIC and impact on 1/f noise∼.

Autor: Sato, M., Jun Chen, Sekiguchi, T., Chikyow, T., Yugami, J., Ikeda, K., Ohji, Y.

Publikováno v: 2010 IEEE International Conference on IC Design & Technology (ICICDT); 2010, p86-89, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 8 8

Conference

Theoretical approach and precise description of PBTI in high-k gate dielectrics based on electron trap in pre-existing and stress-induced defects.

Autor: Shimokawa, J., Sato, M., Suzuki, C., Nakamura, M., Ohji, Y.

Publikováno v: 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2009, p973-976, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 9 9

Conference

Systematic study of the relationship between 1/ƒ noise, interface state defects and mobility ddgradtion of high-K /metal CMOSFETs on (110) and (100) substrate.

Autor: Sato, M., Aoyama, T., Nara, Y., Ohji, Y.

Publikováno v: 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2009, p45-50, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 10 10

Conference

Improvement of pattern effect by optical-absorption carbon film and flexibly-shaped-pulse flash lamp annealing.

Autor: Kato, S., Aoyama, T., Onizawa, T., Ikeda, K., Ohji, Y.

Publikováno v: 2009 17th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors; 2009, p1-6, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
Další »
[30]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

156 Akademické články
141 Konferenční materiály
5 Časopisy
2 Recenze

82 ieee
13 ieee-inst electrical electronics engineers inc
11 amer inst physics
10 american institute of physics
10 electrochemical society inc.
9 institute of electrical and electronics engineers inc.
4 georg thieme verlag stuttgart
2 georg thieme verlag
2 georg thieme verlag kg
2 ieee computer society
2 japan inst metals
2 japan j applied physics
2 wiley-blackwell
1 blackwell publishing
1 blackwell scientific publications
1 bmj pub. group
1 british medical assn
1 cambridge univ press
1 cambridge university press
1 d.a. spandidos
1 electrochemical soc japan
1 elsevier b.v.
1 elsevier science bv
1 elsevier science inc
1 gan to kagaku ryohosha
1 informa healthcare
1 inst pure applied physics
1 japan institute of metals (jim)
1 japan soc applied physics
1 japan society of applied physics
1 japanese journal of cancer and chemotherapy publishers inc.
1 jjap
1 lippincott williams and wilkins
1 mosby yearbook
1 mosby, inc
1 oxford university press / usa
1 pergamon-elsevier science ltd
1 publ by business cent for acad soc japan
1 spandidos publications
1 wolters kluwer

28 journal of applied physics
19 ieee electron device letters
19 japanese journal of applied physics
17 ieee transactions on electron devices
12 ecs transactions
11 digest of technical papers - symposium on vlsi technology
11 technical digest - international electron devices meeting, iedm
10 endoscopy
7 ieee journal of solid-state circuits
5 histopathology
5 ieee international reliability physics symposium proceedings
4 applied physics letters
4 japanese journal of applied physics, part 1: regular papers and short notes and review papers
3 2007 ieee international electron devices meeting
3 extended abstracts - 2008 8th international workshop on junction technology (iwjt '08)
3 gastrointestinal endoscopy
3 ieee transactions on nuclear science
3 proceedings of the ieee
2 1995 symposium on vlsi technology digest of technical papers
2 1999 ieee international symposium on semiconductor manufacturing conference proceedings (cat no99ch36314)
2 2001 6th international workshop on statistical methodology (cat. no.01th8550)
2 2001 symposium on vlsi technology. digest of technical papers (ieee cat. no.01 ch37184)
2 2005 international conference on simulation of semiconductor processes & devices
2 2008 ieee international electron devices meeting
2 2008 ieee international reliability physics symposium
2 2008 symposium on vlsi technology
2 2009 ieee international electron devices meeting (iedm)
2 2009 ieee international reliability physics symposium
2 2009 international workshop on junction technology
2 2010 symposium on vlsi technology (vlsit)
2 clinical spine surgery
2 extended abstracts of the fifth international workshop on junction technology
2 gut
2 international meeting for future of electron devices, 2004
2 japanese journal of applied physics part 2-letters
2 journal of clinical pathology
2 journal of the japan institute of metals
2 microelectronics reliability
2 microscopy and microanalysis
2 oncology reports
2 physics letters a
2 scandinavian journal of gastroenterology
1 1985 international electron devices meeting
1 1986 international electron devices meeting
1 1990 37th ieee international conference on solid-state circuits
1 1991 symposium on vlsi technology
1 1999 ieee international reliability physics symposium proceedings 37th annual (cat no99ch36296)
1 gan to kagaku ryoho cancer chemotherapy
1 materials science forum
1 spine journal official journal of the north american spine society

150 Scopus®
86 Complementary Index
38 Science Citation Index Expanded
11 MEDLINE
8 Academic Search Ultimate
5 Supplemental Index
1 ScienceDirect

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......