RSM and MD—a roughness predictive model and simulation comparison of monocrystalline optical grade silicon.

Autor: Abdulkadir, Lukman N., Abou-El-Hossein, Khaled, Odedeyi, Peter B., Liman, Muhammad M., Jumare, Abubakar I.

Publikováno v: International Journal of Advanced Manufacturing Technology; 2021, Vol. 112 Issue 1/2, p437-451, 15p, 6 Color Photographs, 6 Charts, 14 Graphs

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.