Zobrazeno 1 - 10
of 1 252
pro vyhledávání: '"OLSON, DAVID P."'
Autor:
Toher, Cormac, Ridley, Mackenzie J., Tomko, Kathleen Q., Olson, David Hans, Curtarolo, Stefano, Hopkins, Patrick E., Opila, Elizabeth J.
Rare-earth silicates are the current standard material for use as environmental barrier coatings for SiC-based ceramic matrix composites as hot-section components in gas-turbine engines. Expanding the design space to all available rare-earth elements
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2303.02540
Thermal conductivity measurements of sub-surface buried substrates by steady-state thermoreflectance
Autor:
Hoque, Md Shafkat Bin, Koh, Yee Rui, Aryana, Kiumars, Hoglund, Eric, Braun, Jeffrey L., Olson, David H., Gaskins, John T., Ahmad, Habib, Elahi, Mirza Mohammad Mahbube, Hite, Jennifer K., Leseman, Zayd C., Doolittle, W. Alan, Hopkins, Patrick E.
Publikováno v:
Review of Scientific Instruments 92, 064906 (2021)
Measuring the thermal conductivity of sub-surface buried substrates are of significant practical interests. However, this remains challenging with traditional pump-probe spectroscopies due to their limited thermal penetration depths (TPD). Here, we e
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2102.12954
Interface controlled thermal properties of ultra-thin chalcogenide-based phase change memory devices
Autor:
Aryana, Kiumars, Gaskins, John T., Nag, Joyeeta, Stewart, Derek A., Bai, Zhaoqiang, Mukhopadhyay, Saikat, Read, John C., Olson, David H., Hoglund, Eric R., Howe, James M., Giri, Ashutosh, Grobis, Michael K., Hopkins, Patrick E.
Phase change memory (PCM) is a rapidly growing technology that not only offers advancements in storage-class memories but also enables in-memory data storage and processing towards overcoming the von Neumann bottleneck. In PCMs, the primary mechanism
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2011.05492
Autor:
Tomko, John A., Runnerstrom, Evan L., Wang, Yi-Siang, Nolen, Joshua R., Olson, David H., Kelley, Kyle P., Cleri, Angela, Nordlander, Josh, Caldwell, Joshua D., Prezhdo, Oleg V., Maria, Jon-Paul, Hopkins, Patrick E.
Energy and charge transfer across metal-semiconductor interfaces are the fundamental driving forces for a broad range of applications, such as computing, energy harvesting, and photodetection. However, the exact roles and physical separation of these
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2005.10179
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Phys. Rev. Materials 3, 104001 (2019)
The deposition of a thin oxide layer at metal/semiconductor interfaces has been previously reported as a means of reducing contact resistance in 2D electronics. Using X-ray photoelectron spectroscopy with in-situ Ti deposition, we fabricate Au/Ti/TiO
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1906.10727
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.