Zobrazeno 1 - 10
of 17
pro vyhledávání: '"O. Vatel"'
Publikováno v:
Europhysics Letters (EPL). 22:717-722
Cross characterizations of surface roughness of glassy materials have been performed using Atomic-Force Microscopy (AFM) and optical scattering techniques. The AFM measurements provide images of the surface height contours from the micrometer down to
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::113343bca2d86421e557570d185e2811
https://doi.org/10.1209/0295-5075/22/9/014
https://doi.org/10.1209/0295-5075/22/9/014
Publikováno v:
Applied Physics Letters. 67:3069-3071
We report on measurements of the potential profile of a GaAs/AlGaAs n‐i‐p‐i multiple quantum well structure using a scanning Kelvin probe force microscope (KFM). Using this novel technique we directly measure with meV precision and sub‐100 nm
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::216a3f7e4458da579e5b5f16dde5b212
https://doi.org/10.1063/1.114867
https://doi.org/10.1063/1.114867
Publikováno v:
Applied Physics Letters. 64:196-198
The deposition of InAs on GaAs proceeds first by two‐dimensional (2D) growth and above a 1.75‐monolayer coverage by the formation of single‐crystal dots on a residual 2D wetting layer. By atomic force microscopy measurements, we show that the f
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d073086e6611937d1b471d616baf7148
https://doi.org/10.1063/1.111502
https://doi.org/10.1063/1.111502
Autor:
O. Vatel, W. Vandervorst, J. Alay, Bert Vermeire, Hugo Bender, Steven Verhaverbeke, Matty Caymax, Frederic Chollet, Elie André, M.M. Heyns, Paul W. Mertens
The surface morphology and chemical termination is investigated with multiple internal reflection infrared spectroscopy and atomic force microscopy for wet etching in hydrogen fluoride solutions and after annealing in a H 2 atmosphere under atmospher
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0e4c44cd9bd444cafe2c798b4f56c6ae
https://doi.org/10.1016/b978-0-444-81889-8.50063-8
https://doi.org/10.1016/b978-0-444-81889-8.50063-8
Publikováno v:
Optical Properties of Low Dimensional Silicon Structures ISBN: 9789401049276
Different scanning probe microscopies have been used to investigate luminescent porous silicon layers.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6a1de88c79b8c311deeb763695b968b8
https://doi.org/10.1007/978-94-011-2092-0_18
https://doi.org/10.1007/978-94-011-2092-0_18
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.