Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"O. Leonte"'
Publikováno v:
International Symposium on Signals, Circuits and Systems, 2005. ISSCS 2005..
Having in mind the current trend of industry, both civil and military, a data acquisition system (DAS) that was developed and tested is presented in this paper.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fd9300d57dc205a9ca418a199e349915
https://doi.org/10.1109/isscs.2005.1511291
https://doi.org/10.1109/isscs.2005.1511291
Autor:
J. Dunne, O. Leonte, T.A. Ramos, Tiffany Nguyen, A. Camarena, Lei Jin, Z.J. Chen, J.A. Levert, Brian J. Daniels, S. Thanawala, F. Zhang
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2001 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.01EX461).
The drive for greater integrated circuit performance has led to the need for faster interconnect systems and the development of porous ultra low k dielectrics. The porous structure and lower modulus has made integration a greater challenge. Nanoglass
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::082153662b427e88bb3467fdfa64fb98
https://doi.org/10.1109/iitc.2001.930016
https://doi.org/10.1109/iitc.2001.930016
Publikováno v:
Surface and Coatings Technology. 28:347-357
Real regenerated supported palladium (0.5wt.%Pd-LiAl5O8) catalysts used in the hydrogenation of alkenes or alkynes and alkadienes were sintered at high temperatures (300, 500 or 600 °C) in a hydrogen atmosphere, and subjected to alternative treatmen
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f70e2de4ba812102cb0ef8b293a80b91
https://doi.org/10.1016/0257-8972(86)90091-5
https://doi.org/10.1016/0257-8972(86)90091-5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Daniel Bauza
Publikováno v:
ECS Transactions
ECS Transactions, Electrochemical Society, Inc., 2016, 72 (2), pp.207-222. ⟨10.1149/07202.0207ecst⟩
229th ECS Meetings: 7th Int. Symposium on Dielectrics for Nanosystems: Materials Science, Processing, Reliability and Manufaturing-and-Solid State Topics General Session
229th ECS Meetings: 7th Int. Symposium on Dielectrics for Nanosystems: Materials Science, Processing, Reliability and Manufaturing-and-Solid State Topics General Session, D. Misra, K. Sundaram, H. Iwai, T. Chikyo, Y. Obeng, Z. Chen, D. Bauza, O. Leonte and K. Shimanura, May 2016, San Diego, United States
ECS Transactions, Electrochemical Society, Inc., 2016, 72 (2), pp.207-222. ⟨10.1149/07202.0207ecst⟩
229th ECS Meetings: 7th Int. Symposium on Dielectrics for Nanosystems: Materials Science, Processing, Reliability and Manufaturing-and-Solid State Topics General Session
229th ECS Meetings: 7th Int. Symposium on Dielectrics for Nanosystems: Materials Science, Processing, Reliability and Manufaturing-and-Solid State Topics General Session, D. Misra, K. Sundaram, H. Iwai, T. Chikyo, Y. Obeng, Z. Chen, D. Bauza, O. Leonte and K. Shimanura, May 2016, San Diego, United States
The Charge Pumping (CP) technique has been used to characterize insulator semiconductor interface traps in numerous device types and in a wealth of situations [1]. A few years ago and for the first time, the three basic CP curves types recorded from
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c0755798cefb24652a5404005bfb7feb
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02015172
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02015172
