Zobrazeno 1 - 10
of 14
pro vyhledávání: '"O. Fruchier"'
Publikováno v:
EBCCSP
The whole research projects that concern the concentrated photovoitaic (CPV) are systematically about the yield improvement of the cell. The positioning of the work presented here is at the cell interconnections for achieving a stable DC bus to extra
Publikováno v:
ICIT
IEEE International Conference on Industrial Technology (ICIT)
IEEE International Conference on Industrial Technology (ICIT), 2018, Lyon, France. pp. 1031-1036
IEEE International Conference on Industrial Technology (ICIT)
IEEE International Conference on Industrial Technology (ICIT), 2018, Lyon, France. pp. 1031-1036
Photovoltaic power plants are more and more numerous all over the planet. In France, profit of PV power plants is done by a fixed buying back price of electricity. Until year 2020 the repurchase price of electricity will be constant, then variability
Analysis of Data Obtained Using the Thermal-Step Method on a MOS Structure—An Electrostatic Approach
Autor:
Bernard Rousset, Jean-Louis Sanchez, Alain Toureille, L. Boyer, Petru Notingher, S. Agnel, O. Fruchier
Publikováno v:
IEEE Transactions on Industry Applications. 46:1144-1150
The thermal-step method (TSM) is a nondestructive technique for measuring electric charge, based on the acquisition of a capacitive current appearing when a thermal step of low amplitude is applied to an insulating structure. The electrostatic modeli
Autor:
S. Agnel, L. Boyer, Petru Notingher, O. Fruchier, Jean-Louis Sanchez, Bernard Rousset, Alain Toureille
Publikováno v:
IAS
2008 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting (IAS)
2008 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting (IAS), Oct 2008, Edmonton, Canada. ⟨10.1109/08IAS.2008.111⟩
2008 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting (IAS)
2008 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting (IAS), Oct 2008, Edmonton, Canada. ⟨10.1109/08IAS.2008.111⟩
The thermal step method is a non destructive electric charge measurement technique, based on the acquisition of a capacitive current appearing when an insulating structure is crossed by a low amplitude thermal wave. Elements concerning the electrosta
Applications of the Thermal Step Method to the Characterization of Electric Charge in MOS Components
Autor:
Alain Toureille, Jean-Louis Sanchez, Petru Notingher, O. Fruchier, Serge Agnel, Bernard Rousset, S. Cunningham, F. Forest
Publikováno v:
IAS
This work is concerned with the development of a non destructive method for measuring electric charge in metal-oxide-semiconductor (MOS) components and devices. The aim is to obtain further information on microelectronics and power electronics compon
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.