Zobrazeno 1 - 10 of 12 pro vyhledávání: '"Nyyssonen, Diana"'
1
Conference
Collection of low-energy secondary electrons and imaging in a low-voltage SEM.
Autor: Nyyssonen, Diana
Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1996, Issue 1, p562-571, 10p
Zobrazit plný text záznamu
2
Conference
Phase image metrology with a modified coherence probe microscope.
Autor: Nyyssonen, Diana, Seligson, Joel L., Mazor, Isaac
Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1993, Issue 1, p299-310, 12p
Zobrazit plný text záznamu
3
Conference
Developments in 2D AFM metrology.
Autor: Nyyssonen, Diana
Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1993, Issue 1, p324-335, 12p
Zobrazit plný text záznamu
4
Conference
Application of a 2-D atomic force microscope system to metrology.
Autor: Nyyssonen, Diana, Landstein, Laszlo, Coombs, E.
Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1992, Issue 1, p79-87, 9p
Zobrazit plný text záznamu
5
Periodical
Optical microscope imaging of lines patterned in thick layers with variable edge geometry: theory
Autor: Nyyssonen, Diana, Kirk, Chris P.
Publikováno v: Journal of the Optical Society of America A: Optics, Image Science & Vision; August 1988, Vol. 5 Issue: 8 p1270-1280, 11p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
10
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje