Zobrazeno 1 - 10 of 28 pro vyhledávání: '"Nys B"'
2
The Primary Energy Dependence of Backscattered Electron Images Up to 100 keV
Autor: Geuens, I., Nys, B., Jan Naudts, Gijbels, R., Jacob, W., Espen, P.
Publikováno v: Scanning Microscopy
Scopus-Elsevier
Scanning microscopy
The backscattered electron coefficient is known to be primarily dependent on the atomic number of the sample. If the atomic number increases, the backscattered electron coefficient increases, which results in a higher intensity in the backscattered e
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::f8990908d9a1c6dcc73df3ef71fffa34
https://digitalcommons.usu.edu/microscopy/vol5/iss2/5
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Akademický článek
The use of low-cost frame grabber boards on PC-AT computers for ESI: possibilities and limitations.
Autor: Nys, B., Jacob, W., Espen, P.
Publikováno v: Journal of Microscopy; 1991, Vol. 162 Issue 1, p55-60, 6p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje