Výsledky vyhledávání

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Quantitative two-dimensional carrier profiling of a 400 nm complementary metal-oxide-semiconductor device by Schottky scanning capacitance microscopy.

Autor: Tran, T., Nxumalo, J. N., Li, Y., Thomson, D. J., Bridges, G. E., Oliver, D. R.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 12/1/2000, Vol. 88 Issue 11, p6752, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Dysphagia lusoria - report of 2 cases and a review of the literature

Autor: Ntlhe, LM, Koto, Z, Mokotedi, SD, Nxumalo, J

Publikováno v: South African Journal of Surgery; Vol 44, No 4 (2006); 140-143

Aberrant subclavian artery is the most frequent aortic arch anomaly and occurs in 0.5% of normal individuals.1,2 The majority of people with this anomaly are asymptomatic and nothing needs to be done. However, cervicomediastinal surgery for unrelated

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=78975075580c::fc494fa02dc8c2c5d8c3753f36efd378
https://www.ajol.info/index.php/sajs/article/view/34373

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Conference

Leakage issues in failure analysis of p+ SiGe active area short monitor.

Autor: Arya, A., Johnson, G.M., Ronsheim, P., Nxumalo, J., Molella, C.M., Murphy, R.J., Seung Chul Lee, Daleo, C., Bum Ki Moon, Onoda, H., Chung Woh Lai, Shenzhi Yang, Chow, Y.T.C., Lee, J.

Publikováno v: 2011 18th IEEE International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA); 2011, p1-4, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Evaluation of emitter profiles and lateral uniformity on crystalline silicon photovoltaic cells using scanning capacitance microscopy.

Autor: Kosbar, L., Nxumalo, J., Nalaskowski, J., Hupka, L., Molella, C., Liu, J., Totir, G., Fisher, K., Cotte, J., Hopstaken, M.

Publikováno v: 2010 35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC); 2010, p001737-001741, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Two-dimensional imaging of charge carrier profiles using local metal-semiconductor capacitance-voltage measurement.

Autor: Li, Y., Nxumalo, J. N., Thomson, D. J.

Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1998, Vol. 16 Issue 1, p457-462, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Cross-sectional imaging of semiconductor device structures by scanning resistance microscopy.

Autor: Nxumalo, J. N., Shimizu, D. T., Thomson, D. J.

Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1996, Vol. 14 Issue 1, p386-389, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání