Zobrazeno 1 - 10
of 48
pro vyhledávání: '"Novak, Steve"'
Autor:
Narasimham, Avyaya J., Sayed, Farheen N, Adusumilli, Praneet, Novak, Steve, LaBella, Vincent P.
Dopant concentration and $\alpha$, $\beta$ phase fraction is studied in doped W thin films. Oxygen doped $\beta$ W films are found to have 9.0~$\pm$~0.9 at.\% of oxygen as measured from \ac{SIMS}. Whereas, nitrogen doped $\beta$ W films have 0.15~$\p
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1708.06033
Publikováno v:
In Journal of Building Engineering August 2021 40
Autor:
Claypoole, Jesse, Novak, Steve, Altwerger, Mark, Dwyer, Dan, Haldar, Pradeep, Eisaman, Matt, Efstathiadis, Harry
Publikováno v:
In Journal of Alloys and Compounds 5 March 2017 696:808-813
Publikováno v:
COMPEL -The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, 1991, Vol. 10, Issue 4, pp. 331-340.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/eb051710
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Narasimham, Avyaya J., Sayed, Farheen N, Adusumilli, Praneet, Novak, Steve, LaBella, Vincent P.
Dopant concentration and $��$, $��$ phase fraction is studied in doped W thin films. Oxygen doped $��$ W films are found to have 9.0~$\pm$~0.9 at.\% of oxygen as measured from \ac{SIMS}. Whereas, nitrogen doped $��$ W films have 0.15~
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2a361bc792857e3bf3e9f279cbcc1ced
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yun, Feng, Reshchikov, Michael A., He, Lei, King, Thomas, Morkoç, Hadis, Novak, Steve W., Wei, Luncun
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/15/2002, Vol. 92 Issue 8, p4837, 3p, 1 Chart, 3 Graphs
Autor:
Borland, John, Herman, Joshua, Novak, Steve, Onoda, Hiroshi, Nakashima, Yoshiki, Huet, Karim, Johnson, Walt, Joshi, Abhijeet
Publikováno v:
2015 15th International Workshop on Junction Technology (IWJT); 2015, p15-18, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.