Zobrazeno 1 - 10
of 88
pro vyhledávání: '"Notte, John A"'
Autor:
Allen, Frances I., Blanchard, Paul T., Lake, Russell, Pappas, David, Xia, Deying, Notte, John A., Zhang, Ruopeng, Minor, Andrew M., Sanford, Norman A.
We demonstrate a new focused ion beam sample preparation method for atom probe tomography. The key aspect of the new method is that we use a neon ion beam for the final tip-shaping after conventional annulus milling using gallium ions. This dual-ion
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2302.09254
Autor:
Klingner, Nico, Heller, René, Hlawacek, Gregor, von Borany, Johannes, Notte, John, Huang, Jason, Facsko, Stefan
Time of flight backscattering spectrometry (ToF-BS) was successfully implemented in a helium ion microscope (HIM). Its integration introduces the ability to perform laterally resolved elemental analysis as well as elemental depth profiling on the nm
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1510.04594
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Livengood, Richard H., Tan, Shida, Hallstein, Roy, Notte, John, McVey, Shawn, Faridur Rahman, F.H.M.
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 21 July 2011 645(1):136-140
Publikováno v:
In Physics Procedia August 2008 1(1):135-141
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Sijbrandij, Sybren, Lombardi, Alexander, Sireuil, Alain, Khanom, Fouzia, Lewis, Brett, Guillermier, Christelle, Runt, Doug, Notte, John
Publikováno v:
Microscopy Today; May2019, Vol. 27 Issue 3, p22-27, 6p