Výsledky vyhledávání - "Noice, D."

Conference

Post Assembly Timing Closure for Multi Million Gate Chips.

Autor: Prasad, S., Dongzi Liu, Levitsky, O., Noice, D., Srivastava, S.

Publikováno v: VLSID '10. 23rd International Conference on VLSI Design, 2010; 2010, p75-80, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Analysis And Justification Of A Practical 2 L/2-d Capacitance Extraction Methodology.

Autor: Cong, J., Lei Het, Kahng, A.B., Noice, D., Shirali, N., Yen, S.H.-C.

Publikováno v: Proceedings of the 34th Design Automation Conference; 1997, p627-632, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.