Zobrazeno 1 - 10
of 33
pro vyhledávání: '"Noh, Seungjun"'
Publikováno v:
In International Journal of Fatigue July 2023 172
Autor:
Kim, Dongjin, Lee, Byeongsoo, Lee, Tae-Ik, Noh, Seungjun, Choe, Chanyang, Park, Semin, Kim, Min-Su
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2022 138
Autor:
Kim, Dongjin, Choe, Chanyang, Chen, Chuantong, Lee, Sangmin, Lee, Seung-Joon, Park, Semin, Noh, Seungjun, Suganuma, Katsuaki
Publikováno v:
In International Journal of Fatigue September 2021 150
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:701-706
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:695-700
Autor:
Chen, Chuantong, Noh, Seungjun, Zhang, Hao, Choe, Chanyang, Jiu, Jinting, Nagao, Shijo, Suganuma, Katsuaki
Publikováno v:
In Scripta Materialia 15 March 2018 146:123-127
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.